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成都智凯自动化科技有限公司

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IC器件测试插座
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产品: 浏览次数:9IC器件测试插座 
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最后更新: 2024-03-14 08:47
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详细信息

IC器件测试插座

IC器件测试插座、高频测试插座

GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)

适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座

1.0mm/0.039“间距18x18触点【金蝴蝶】大值

-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间

短-温度范围(典型值)

-40至+150℃(典型值)

[可接受的器件]

FTGB196(赛灵思)

256针FBGA(英特尔)

FT256/FTG256(赛灵思)

FG256/FGG256(赛灵思)

FG320/FGG320(赛灵思)

[可接受的器件]

FTGB196(赛灵思)

256针FBGA(英特尔)

FT256/FTG256(赛灵思)

FG256/FGG256(赛灵思)

FG320/FGG320(赛灵思)

GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)

适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座

1.0mm/0.039“间距18x18触点【金蝴蝶】大值

-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间

短-温度范围(典型值)

-40至+150℃(典型值)

https://www.chem17.com/st433170/erlist_2495307.html

http://www.leaderx.com.cn/Products-38193042.html

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